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  • MOS管,场效应管热阻怎么测量
    • 发布时间:2024-07-09 19:36:05
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    MOS管,场效应管热阻怎么测量
    1、首先,明确两个概念:
    稳态热阻:两处测量点温差△T,单位时间内通过散热面的能量为Pd,热阻RΘ=△T/Pd,单位℃/W。它是一个反映了散热体散热性能的参数。热阻越大,散热越慢。(字面意思理解也很简单,阻碍热量传递的能力)
    瞬态热阻:因为电子器件的温升并不一定非常平滑。峰值温度往往比平均温度更加致命。所以峰值温度成为了限制器件工作特性的主要因素。
    场效应管热阻
    温度的峰值往往出现在脉冲宽度tp较短,占空比D低的情况下,这说明器件的温升不仅仅与Pd相关了,还和脉冲宽度、脉冲形状(方波、锯齿波、正弦波这种的典型波形)、频率等有关联。稳态热阻的局限性就显现出来了。所以引入了瞬态热阻,用来衡量电路中开关时刻、浪涌时刻等瞬间的与散热相关的能力。
    瞬态热阻的定义:在某一时间间隔的末尾,两处测试点的温度变化与引起这一变化的,在该时间间隔开始时按阶跃函数变化的耗散功率之比。ZΘ=r(tp,D)RΘ
     r(tp,D)表示脉冲宽度与占空比之间的一个比例。不难看出瞬态热阻与稳态热阻具有关联性。瞬态热阻反映了散热体在热惯性的作用下,在热传递的过程中对热阻的改变。
    2、结温与壳温
    场效应管热阻
    3、测试电路
    场效应管热阻
    原理图
    万用表测得数据记为UR;
    Mos体二极管电压、电流记为Uf,If;
    电源电压记为U。
    测量mos热阻
    第一步:将电路板置于温箱中,类似于下图设备。主要是为了保证静态无风状态。加热后,使其内部达到热平衡。即Tj=Tc。这个温度(T1)不能过低,因为温度过低,结温和壳温不可能相同。
    电路中使用的电阻R为2KΩ,缓慢调节电源电压U至20.7V时(二极管通态压降为0.6-0.8左右),mos的体二极管电流If达到10mA。
    保持U不变,提高温度,记录UR与对应温度。根据Uf=U-UR,得出下表数据:
    场效应管热阻
    第二步:将温箱温度调回T1,并放入一个热电偶测量温箱内环境温度Ta,进一步确认数据准确性。再连接一个热电偶至MOS,测量壳温Tc,如下图所示。当然实际测量的mos应该已经焊接在电路板上了。
    在保持温箱温度不变的情况下。提升If(提高 U),记录万用表读数Uf。根据Pd=Uf*If得到不同时刻的耗散功率。
    第三步,迅速降低If至10mA。即将电源电压U降低至20.7V。记录此时的Uf后,去第一步中收集的表格里,找对应的温度,即Tj。
    最终,按照公式计算热阻:
    结到壳的热阻RΘjc=(Tj-Tc)/Pd
    壳到环境的热阻RΘca=(Tc-Ta)/Pd
    结到环境的热阻RΘja=(Tj-Ta)/Pd
    写在最后,其实这种方法误差不小,是实验室粗略估计热阻的一种方式。实施起来其实有很多需要微操的地方。比如第三步中,如何迅速降低If。这个时间越短越好。又比如第一步,你如何评判温箱里的MOS结温与壳温达到热平衡呢。所以在需求精度高的情况下,应尽量采购专业设备进行测量。
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